Системы для мониторинга и анализа характеристик поверхностей для самых разных сфер производства

Распознавание и классификация комплексных и малоконтрастных ошибок является самой большой сложностью для используемых систем. Проверенная временем система ELSIS для анализа характеристик поверхностей оптимизирует процессы на производственных установках и гарантирует непрерывный контроль качества.

Принцип функционирования

Система контроля поверхностей ELSIS отличается очень прочной однострочной камерой OL 60. Модульная структура с высокой степенью универсальности модулей (каждая камера является отдельной системой обработки изображения, которая через Ethernet обменивается информацией с сервером ELSIS и другими камерами системы) находит отражение в исключительно компактном дизайне линий мониторинга.

 

Область применения

Системы для анализа характеристик поверхностей применяются в производстве пленок, на установках для нанесения покрытий, при производстве нетканых материалов и в бумажной промышленности, а также при производстве и обработке металла, гигиенических нетканых материалов и пленок.

 

Применение

Обычно система анализа характеристик поверхности для контроля качества устанавливается после завершения технологического процесса. В зависимости от поставленной задачи поверхность полотна для мониторинга поверхности регистрируется с помощью отраженного или проходящего света. Решающим фактором для успешного анализа характеристик поверхности является угол сканирования относительно поверхности полотна и расположение источника света.

Экспликация

1= направляющий вал | 2 = однострочная CCD-камера | 3 = излучатель света | M = диапазон измерения | A = расстояние до уровня чипа – уровень полотна | AB = рабочая ширина | NB = номинальная ширина

Свяжитесь
с нами!

+7 (495) 669-6579

У вас есть дополнительные вопросы? Мы с удовольствием проконсультируем вас.

К контактной информации представительства